Wydział Elektryczny - Automatyka i robotyka (S2)
specjalność: Systemy sterowania procesami przemysłowymi
Sylabus przedmiotu Systemy pomiarowe i wzorce metrologiczne:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Automatyka i robotyka | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
Obszary studiów | nauki techniczne, studia inżynierskie | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Systemy pomiarowe i wzorce metrologiczne | ||
Specjalność | przedmiot wspólny | ||
Jednostka prowadząca | Katedra Sterowania i Pomiarów | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Artur Wollek <Artur.Wollek@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | Jerzy Sawicki <Jerzy.Sawicki@zut.edu.pl> | ||
ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Matematyka w zakresie podstawowym |
W-2 | Znajomość podstaw Metrologii |
W-3 | Znajomość podstaw techniki cyfrowej |
W-4 | Znajomość podstaw metod numerycznych |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Student nabędzie wiedzę z zakresy przymysłowych wzorców metrologicznych |
C-2 | Student nabędzie wiedzę z systemów pomiarowych |
C-3 | Student nabędzie wiedzę z zakresu akwizycji i przetwarzania sygnałów w systemach pomiarowych |
C-4 | Student pozna metody łączenia i programowania elementów systemów pomiarowych |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
T-L-1 | Akwizycja sygnałów w systemach pomiarowych | 1 |
T-L-2 | Programowanie kart akwizycji danych (DAQ) | 2 |
T-L-3 | Interfejsy i porty komunikacyjne w systemach pomiarowych | 2 |
T-L-4 | Generowanie sygnałów kontrolnych i sterujących w systemach pomiarowych | 2 |
T-L-5 | Badanie parametrów i charakterystyk przetworników temperatury | 2 |
T-L-6 | Badanie przetworników odległości i przesuniecia liniowego | 2 |
T-L-7 | Pomiary przepływu | 2 |
T-L-8 | Zaliczenie laboratorium | 2 |
15 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Wzorce metrologiczne | 2 |
T-W-2 | Systemy pomiarowe w przemyśle | 4 |
T-W-3 | Czujniki pomiarowe w zastosowaniach przemysłowych | 4 |
T-W-4 | Akwizycja sygnałów pomiarowych w systemach przemysłowych | 3 |
T-W-5 | Łącza i protokoły komunikacyjne w zastosowaniach przemysłowych | 2 |
15 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
A-L-1 | Uczestniczenie w zajęciach | 15 |
A-L-2 | Przygotowanie do zajęć laboratoryjnych | 28 |
A-L-3 | Przygotowanie do zaliczenia | 17 |
60 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Uczestniczenie w zajęciach | 15 |
A-W-2 | Samodzielne studiowanie literatury | 10 |
A-W-3 | Przygotowanie do zaliczenia zajęć | 5 |
30 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Wykład informacyjny |
M-2 | Ćwiczenia laboratoryjne wykorzystujące wiedzę przedstawioną na wykładzie z zakresu przemysłowych systemów pomiarowych |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena formująca: Ocena wystawiana na początku ćwiczeń laboratoryjnych na podstawie odpowiedzi pisemnej na tematy związane z konkretnym ćwiczeniem |
S-2 | Ocena podsumowująca: Ocena końcowa z laboratorium na podstawie ocen cząstkowych uzyskanych z zaliczenia poszczególnych ćwiczeń |
S-3 | Ocena podsumowująca: Ocena pisemna na podstawie pisemnego zaliczenia treści wykładów |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
AR_2A_C06_W01 Student posiada podstawową wiedzę z zakresu przemysłowych wzorców pomiarowych i systemów pomiarowych | AR_2A_W02 | — | — | C-4, C-3, C-1, C-2 | T-W-4, T-W-1, T-W-2, T-W-5, T-W-3 | M-1 | S-3 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
AR_2A_C06_U01 Student potrafi prawidłowo połączyć i skonfigurować prosty system pomiarowy | AR_2A_U02 | — | — | C-1, C-2, C-4, C-3 | T-L-6, T-L-1, T-L-7, T-L-3, T-L-2, T-L-8, T-L-4, T-L-5 | M-2 | S-2, S-1 |
AR_2A_C06_U02 Student potrafi tworzyć w języku graficznym oprogramowanie sterujące pracą systemu pomiarowego | AR_2A_U02 | — | — | C-4, C-2, C-1, C-3 | T-L-8, T-L-6, T-L-1, T-L-3, T-L-7, T-L-2, T-L-4, T-L-5 | M-2 | S-1, S-2 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
AR_2A_C06_W01 Student posiada podstawową wiedzę z zakresu przemysłowych wzorców pomiarowych i systemów pomiarowych | 2,0 | |
3,0 | Student posiada podstawową wiedzę teoretyczną z zakresu przemysłowych wzorców pomiarowych i systemów pomiarowych | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
AR_2A_C06_U01 Student potrafi prawidłowo połączyć i skonfigurować prosty system pomiarowy | 2,0 | |
3,0 | Student potrafi połączyć i skonfigurować prosty system pomiarowy | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 | ||
AR_2A_C06_U02 Student potrafi tworzyć w języku graficznym oprogramowanie sterujące pracą systemu pomiarowego | 2,0 | |
3,0 | Student potrafi stworzyć w języku graficznym oprogramowanie sterujące pracą prostego systemu pomiarowego | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Literatura podstawowa
- Kulka Z., Libura A., Nadachowski M., Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe, WKiŁ, Warszawa, 1987
- Tumański S., Technika pomiarowa, WNT, Warszawa, 2007
- Nawrocki W, Komputerowe systemy pomiarowe, WKiŁ, Warszawa, 2002
- Winiecki W., Graficzne zintegrowane środowiska pomiarowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo-kontrolnych, MIKOM, Warszawa, 2001
- Nawrocki W., Rozproszone systemy pomiarowe, WKiŁ, Warszawa, 2006
Literatura dodatkowa
- Dokumentacja techniczna i materiały wskazane przez prowadzącego