Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Technologia chemiczna (S2)
Sylabus przedmiotu Metody badania nanomateriałów komercyjnych:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Technologia chemiczna | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
Obszary studiów | nauk technicznych, studiów inżynierskich | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Metody badania nanomateriałów komercyjnych | ||
Specjalność | Nanotechnologie i biznes | ||
Jednostka prowadząca | Instytut Technologii Chemicznej Nieorganicznej i Inżynierii Środowiska | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Walerian Arabczyk <Walerian.Arabczyk@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | Zofia Lendzion-Bieluń <Zofia.Lendzion-Bielun@zut.edu.pl>, Dariusz Moszyński <Dariusz.Moszynski@zut.edu.pl>, Urszula Narkiewicz <Urszula.Narkiewicz@zut.edu.pl> | ||
ECTS (planowane) | 5,0 | ECTS (formy) | 5,0 |
Forma zaliczenia | egzamin | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Chemia Nieorganiczna, Chemia Fizyczna, Fizyka z zakresu studiów stacjonarnych pierwszego stopnia. |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Zapoznanie studenta z technikami badawczymi oraz ich wykorzystania w badaniach nanomateriałów. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
T-L-1 | Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM). Oznaczanie składu pierwiastkowego za pomocą mikroanalizy rentgenowskiej (SEM-EDX). | 10 |
T-L-2 | Oznaczanie składu fazowego, średniej wielkości krystalitów w nanomateriałach przy użyciu metody dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego (XRD). | 10 |
T-L-3 | Analiza termiczna - termograwimetria | 15 |
T-L-4 | Spektrometria UV-Vis i FTIR- charakterystyka nanomateriałów | 10 |
T-L-5 | Analiza składu chemicznego nanomateriałów metodą fluorescencji rentgenowskiej (XRF). | 5 |
T-L-6 | Zastosowanie emisyjnej spektroskopii atomowej ze wzbudzeniem plazmowym (ICP-OES) w analizie pierwiastków śladowych w nanomateriałach . | 5 |
T-L-7 | Spektroskopia elektronowa do celów analizy chemicznej ESCA, obejmująca spektroskopię fotoelektronów wzbudzanych promieniowaniem rentgenowskim, XPS, spektroskopia elektronów Augera AES. | 20 |
75 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Analiza chemiczna powierzchni nanokrystalicznych materiałów. Podstawy fizykochemiczne metod spektroskopowych. Metody: spektroskopia elektronowa do celów analizy chemicznej ESCA, obejmująca spektroskopię fotoelektronów wzbudzanych promieniowaniem rentgenowskim, XPS, i spektroskopię fotoelektronów wzbudzanych promieniowaniem UV, UPS; spektroskopia elektronów Augera AES, charakterystycznych strat energii elektronów EELS. | 14 |
T-W-2 | Metody adsorpcyjno-desorpcyjne w charaklterystyce nanomateriałów. Techniki temperaturowo programowane: termograwimetria TG, termoprogramowana desorpcja, TPD, termoprogramowane utlenianie, TPO, termoprogramowana redukcja, TPR, termoprogramowana reakcja powierzchniowa, TPSR. | 10 |
T-W-3 | Analiza struktury i składu fazowego nanomateriałów. Dyfrakcja: promieni rentgenowskich, XRD, elektronów wysokoenergetycznych, RHEED. Mikroskopie elektronowe: skaningowa, SEM, i transmisyjna, TEM (z wykorzystaniem charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego i EELS do mikroanalizy). Tunelowa mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych AFM. | 12 |
T-W-4 | Metody oparte na widmach molekularnych spektroskopia IR, spektroskopia ramanowska RS w charakterystyce nanomateriałów | 5 |
T-W-5 | Przykłady zastosowania ww. metod do badania nanomateriałów. | 4 |
45 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
A-L-1 | uczestnictwo w zajęciach | 75 |
A-L-2 | przygotownie się do zajęć | 15 |
90 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | uczestnictwo w zajęciach | 45 |
A-W-2 | czytanie literatury związanej z tematyka wykładu | 8 |
A-W-3 | Przygotowanie do egzaminu | 8 |
61 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | wykład informacyjny z prezentacją multimedialną |
M-2 | zajęcia laboratoryjne |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena formująca: "wejściówki" (krótkie sprawdziany) - oceniające przygotownie studentów do zajęć laboratoryjnych |
S-2 | Ocena formująca: ocena sprawozdań z wykonanych ćwiczeń laboratoryjnych |
S-3 | Ocena podsumowująca: egzamin w formie pisemnej |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
TCH_2A_D10-02_W01 Student ma uporzadkowana wiedzę z zakresu technik i metod charakteryzowania nanomateriałów | TCH_2A_W08 | T2A_W03 | InzA2_W02 | C-1 | T-W-2, T-W-4, T-W-5, T-W-3, T-W-1 | M-1, M-2 | S-3 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
TCH_2A_D10-02_W01 Student ma uporzadkowana wiedzę z zakresu technik i metod charakteryzowania nanomateriałów | 2,0 | |
3,0 | Student zna podstawy fizykochemiczne omawianych technik badawczych. Wiedza studneta na temat omawianych zagadnień jest na poziomie 60%. | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 | Student zna podstawy fizykochemiczne omawianych technik badawczych, potrafi dobrać odpowiednią technikę i metodę badawczą to rozwiązania konkretnego problemu analitycznego. Wiedza studneta na temat omawianych zagadnień jest na poziomie 98%. |
Literatura podstawowa
- Kozubowski B, Metody transmisyjnej mikroskopii elektronowej, Wyd. Śląsk, Katowice, 1970
- Bojarski Z., Mikroanalizator rentgenowski, Wyd. Śląsk, Katowice, 1970
- Sokołowski J., Elektronowy mikroskop skaningowy, Politechnika Śląska, Gliwice, 1980
- Oleś A., Metody eksperymentalne w fizyce ciała stałego, WNT, Warszawa, 1998
- Bojarski Z., Łągiewka E., Rentgenowska analiza strukturalna, PWN, Warszawa, 1998
- Szummer A., Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej, WNT, Warszawa, 1994
- W. Szczepaniak, Metody instrumentalne w analizie chemicznej, PWN, Warszawa, 1997
- A. Cygański, Metody spektroskopowew chemii analitycznej, Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa, 1997