Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Materials Engineering (S2)
specjalność: Processing of Polymer Materials
Sylabus przedmiotu Advanced Research Methods:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Materials Engineering | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
| Obszary studiów | nauki techniczne | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Advanced Research Methods | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Instytut Inżynierii Materiałowej | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Paweł Kochmański <Pawel.Kochmanski@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | |||
| ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Knowledge of general physics, materials science, physical metallurgy |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | General knowledge about methods and techniques of materials investigation (structure and properties), abilities of method selection and interpretation of results, sample preparation, limitations of the methods |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | X-Ray Diffraction (XRD) | 2 |
| T-L-2 | Scanning Electron Microscopy (SEM) | 2 |
| T-L-3 | X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES) | 2 |
| T-L-4 | Electron Backscattered Diffraction (EBSD) | 2 |
| T-L-5 | Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM) | 2 |
| T-L-6 | Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES) | 2 |
| T-L-7 | Scanning Probe Microscopy (SPM) | 2 |
| T-L-8 | Nanoindentation | 1 |
| 15 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | X-Ray Diffraction (XRD) | 2 |
| T-W-2 | Scanning Electron Microscopy (SEM) | 2 |
| T-W-3 | X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES) | 2 |
| T-W-4 | Electron Backscattered Diffraction (EBSD) | 2 |
| T-W-5 | Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM) | 2 |
| T-W-6 | Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES) | 2 |
| T-W-7 | Scanning Probe Microscopy (SPM) | 2 |
| T-W-8 | Nanoindentation | 1 |
| 15 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | Aktywne uczestnictwo w zajęciach laboratoryjnych | 15 |
| A-L-2 | przygotowanie do zajęć i opracowanie sprawozdań | 24 |
| 39 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestnictwo w wykładach | 15 |
| A-W-2 | przygotowanie do zajęć | 6 |
| 21 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Lecture |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena podsumowująca: Written exam |
| S-2 | Ocena podsumowująca: Oral exam |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| IM_2A_C02_W01 Student understands physical basis of research methods. | ME_2A_W03 | — | C-1 | T-W-3, T-W-2, T-W-1, T-L-2, T-L-3, T-L-1 | M-1 | S-2, S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| IM_2A_C02_U01 Student can select proper research method. | ME_2A_U01, ME_2A_U12 | — | C-1 | T-W-3, T-W-2, T-W-1, T-L-2, T-L-3, T-L-1 | M-1 | S-2, S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| IM_2A_C02_K01 Student can select proper method of research to particular solid material and knows how to interprete results. | ME_2A_K01 | — | C-1 | T-W-3, T-W-2, T-W-1, T-L-2, T-L-3, T-L-1 | M-1 | S-2, S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IM_2A_C02_W01 Student understands physical basis of research methods. | 2,0 | Student's knowledge is poor. |
| 3,0 | Student has basic knowledge about research metods. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 | Student has excellence knowledge about research metods. |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IM_2A_C02_U01 Student can select proper research method. | 2,0 | Student cannot select research method. |
| 3,0 | Student can select research method. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 | Student can select research method. Student can explain selection and can perfectly interprete obtained results. |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| IM_2A_C02_K01 Student can select proper method of research to particular solid material and knows how to interprete results. | 2,0 | Student cannot solve problems related to research methods. |
| 3,0 | Student cansolve problems related to research methods. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Literatura podstawowa
- Amelinckx S. et all, Handbook of microscopy, VCH, Weinheim, New York, Basel, Cambridge, Tokyo, 1997
- Fischer-Cripps A.C., Nanoindentation, Springer, Berlin, 2004
- Lee E. Fitzpatrick, Encyclopedia of Materials Characterization. Surfaces, Interfaces, Thin Films, USA, 1992
- R. Jenkins and R.L. Snyder, Introduction to X-ray Powder Diffractometry, Wiley and Sons, Inc., New York, USA, 1996, ISBN 0 -471 -51339 -3
- Richard Payling, Thomas Nelis, Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy : A Practical Guide., 2003, DOI:10.1039/9781847550989
- Nikodem Tomczak, Kuan Eng Johnson Goh, SCANNING PROBE MICROSCOPY, World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd., 2011
- Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (5th edition), Sрringer, 2008, ISBN: 0387400931
- Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, Brent L. Adams, David P. Field, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Springer Science+Business Media, LLC, 2009, DOI 10.1007/978-0-387-88136-2
- ISO 14577-2 - Instrumented indentation test for hardness and materials parameters. Part 2: Verification and calibration of testing machines. Section 4: Direct verification and calibration.