Wydział Technologii i Inżynierii Chemicznej - Nanotechnologia (S2)
specjalność: Nanonauki i nanotechnologie
Sylabus przedmiotu Mikroskopia i mikroanaliza:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Nanotechnologia | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
| Obszary studiów | nauki techniczne, studia inżynierskie | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Mikroskopia i mikroanaliza | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Instytut Technologii Chemicznej Nieorganicznej i Inżynierii Środowiska | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Ewa Mijowska <Ewa.Borowiak-Palen@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | |||
| ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
| Forma zaliczenia | egzamin | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Podstawy nanotechnologii i nanonauki |
| W-2 | Analiza Instrumentalna |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Celem wykładu jest zapoznanie studenta z metodami mikroskopii elektronowej i mikroanalizą oraz ich zastosowaniem w nanotechnologii |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| ćwiczenia audytoryjne | ||
| T-A-1 | Przygotowanie próbek do analizy mikroskopowej ( TEM.SEM,AFM)i mikoanalizy (EDEX, RAMAN) | 20 |
| 20 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Wysokorozdzielcza skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), | 2 |
| T-W-2 | Wysokorozdzielcza transmisyjna mikroskopia elektronowa (HR-TEM), | 2 |
| T-W-3 | Skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa (STEM), | 2 |
| T-W-4 | Tomografia z wykorzystaniem TEM | 2 |
| T-W-5 | Insitu nanopomiary w HR-TEM | 2 |
| T-W-6 | Nanokrystalografia | 1 |
| T-W-7 | Obrazowanie nanostruktur magnetycznych w HR-TEM | 2 |
| T-W-8 | Mikro i nanoanaliza za pomocą spektrometru rozpraszania promieniowania rentgenowskiego (EDX), spektrometru strat energii elektronów) (EELS), spektrometru ramanowskiego i IR | 2 |
| 15 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| ćwiczenia audytoryjne | ||
| A-A-1 | Uczestnictwo w zajęciach audytoryjnych | 20 |
| A-A-2 | Zaliczenie z ćwiczeń | 10 |
| 30 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestnictwo na wykładach | 15 |
| A-W-2 | Egzamin z wykładów | 15 |
| A-W-3 | Zapoznanie się z literaturą przedmiotu | 15 |
| A-W-4 | Udział w demonstracji pracy aparatów | 15 |
| 60 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Prezentacja multimedialna |
| M-2 | Zajęcia praktyczne z wykorzystaniem sprzętu slużącego do identyfikacji nanomateriałów |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena formująca: Ocena aktywnosci na zajeciach audytoryjnych i laboratoryjnych |
| S-2 | Ocena podsumowująca: Egzamin z wykładów |
| S-3 | Ocena podsumowująca: Zaliczenie z ćwiczeń audytoryjnych |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Nano_2A_C08_W01 Dobieranie odpowiedniego sprzętu do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiowanie podstawowych praw fizycznych na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | Nano_2A_W04 | — | — | C-1 | T-A-1, T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-W-4, T-W-5, T-W-7, T-W-8, T-W-6 | M-1, M-2 | S-3, S-1, S-2 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Nano_2A_C08_U01 Posługiwanie się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału, odpowiedni jego dobór a takze umiejetnosc interpretacji otrzymanych wyników | Nano_2A_U07 | — | — | C-1 | T-A-1, T-W-7, T-W-8, T-W-6 | M-1, M-2 | S-3, S-1, S-2 |
Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Nano_2A_C08_K01 Ocenianie wpływu używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka | Nano_2A_K02 | — | — | C-1 | T-A-1, T-W-7, T-W-8, T-W-6 | M-1, M-2 | S-3, S-1, S-2 |
| Nano_2A_C08_K02 Aktywna postawa przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych | Nano_2A_K03 | — | — | C-1 | T-A-1, T-W-4, T-W-5, T-W-7, T-W-8, T-W-6 | M-1, M-2 | S-3, S-1, S-2 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| Nano_2A_C08_W01 Dobieranie odpowiedniego sprzętu do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiowanie podstawowych praw fizycznych na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | 2,0 | nie potrafi wcale dobierać odpowiedniego sprzętu do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiować podstawowych praw fizycznych na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów |
| 3,0 | w co najmniej 51% potrafi dobierać odpowiedni sprzęt do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiować podstawowe prawa fizyczne na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | |
| 3,5 | w co najmniej 61% potrafi dobierać odpowiedni sprzęt do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiować podstawowe prawa fizyczne na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | |
| 4,0 | w co najmniej 71% potrafi dobierać odpowiedni sprzęt do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiować podstawowe prawa fizyczne na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | |
| 4,5 | w co najmniej 81% potrafi dobierać odpowiedni sprzęt do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiować podstawowe prawa fizyczne na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | |
| 5,0 | w co najmniej 91% potrafi dobierać odpowiedni sprzęt do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiować podstawowe prawa fizyczne na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| Nano_2A_C08_U01 Posługiwanie się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału, odpowiedni jego dobór a takze umiejetnosc interpretacji otrzymanych wyników | 2,0 | nie potrafi wcale dobierać i posługiwać się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału a takze interpretować otrzymanych wyników |
| 3,0 | w co najmniej 51% potrafi dobierać i posługiwać się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału a takze interpretować otrzymane wyniki | |
| 3,5 | w co najmniej 61% potrafi dobierać i posługiwać się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału a takze interpretować otrzymane wyniki | |
| 4,0 | w co najmniej 71% potrafi dobierać i posługiwać się sprzętem używanym do charakteryzacj otrzymanego nanomateriału a takze interpretować otrzymane wyniki | |
| 4,5 | w co najmniej 81% potrafi dobierać i posługiwać się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału a takze interpretować otrzymane wyniki | |
| 5,0 | w co najmniej 91% potrafi dobierać i posługiwać się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału a takze interpretować otrzymane wyniki |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| Nano_2A_C08_K01 Ocenianie wpływu używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka | 2,0 | nie potrafi wcale oceniać wpływu używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka |
| 3,0 | w co najmniej 51% potrafi oceniać wpływ używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka | |
| 3,5 | w co najmniej 61% potrafi oceniać wpływ używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka | |
| 4,0 | w co najmniej 71% potrafi oceniać wpływ używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka | |
| 4,5 | w co najmniej 81% potrafi oceniać wpływ używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka | |
| 5,0 | w co najmniej 91% potrafi oceniać wpływ używanych mikroskopii i mikroanalizy na środowisko naturanle i na organizm człowieka | |
| Nano_2A_C08_K02 Aktywna postawa przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych | 2,0 | nie wykazuje aktywnej postaway przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych |
| 3,0 | w co najmniej 51% potrafi wykazać aktywną postawe przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych | |
| 3,5 | w co najmniej 61% potrafi wykazać aktywną postawe przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych | |
| 4,0 | w co najmniej 71% potrafi wykazać aktywną postawe przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych | |
| 4,5 | w co najmniej 81% potrafi wykazać aktywną postawe przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych | |
| 5,0 | w co najmniej 91% potrafi wykazać aktywną postawe przy realizacji określonego zadania w sytuacjach piorytetowych i problemowych |
Literatura podstawowa
- Yao, Nan; Wang, Zhong L, Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Springer, 2005