Administracja Centralna Uczelni - Wymiana międzynarodowa (S1)
Sylabus przedmiotu Nanolayers and thin films:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Wymiana międzynarodowa | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | |||
| Obszary studiów | — | ||
| Profil | |||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Nanolayers and thin films | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Instytut Technologii Chemicznej Nieorganicznej i Inżynierii Środowiska | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Dariusz Moszyński <Dariusz.Moszynski@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | |||
| ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | angielski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Physics |
| W-2 | Physical chemistry |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Student knows the structure and composition of commonly used nanolayers and thin films |
| C-2 | Student knows most important preparation techniques used to the formation of these structures |
| C-3 | Student knows most important analytical methods utilized for testing these structures |
| C-4 | Student is able to prepare and test simple examples of nanolayers and thin films |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | Chemical vapor deposition | 5 |
| T-L-2 | Physical vapor deposition | 5 |
| T-L-3 | Surface characterization: X-ray Photoelectron Spectroscopy | 5 |
| 15 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Common examples of nanolayers and thin films | 5 |
| T-W-2 | Preparation techniques: Vacuum evaporation, electron beam evaporation, magnetron sputtering, reactive sputtering, chemical vapor deposition, electroplating, spray-on techniques, liquid phase epitaxy | 10 |
| T-W-3 | Principles of industrial processes utilizing thin film deposition | 5 |
| T-W-4 | . Applications of nanolayers and thin films in science and technology | 5 |
| T-W-5 | Principal analytical techniques for nanolayers and thin films testing | 5 |
| 30 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | uczestnictwo w zajęciach | 15 |
| A-L-2 | przygotowanie sprawozdań | 45 |
| 60 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | uczestnictwo w zajęciach | 30 |
| 30 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Lecture |
| M-2 | Laboratory |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena formująca: Exam |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| WM-WTiICh_1-_??_W01 Student knows the structure and composition of commonly used nanolayers and thin films | — | — | — | — | — | — |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| WM-WTiICh_1-_??_U01 Student is able to prepare and test simple examples of nanolayers and thin films | — | — | — | — | — | — |
Literatura podstawowa
- Sarma, Mulukutla S., Introduction to Electrical Engineering, Oxford University Press, 2001