Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Materials Engineering (S2)
specjalność: Lightweight Structures
Sylabus przedmiotu Advanced Research Methods:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Materials Engineering | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
Obszary studiów | nauki techniczne | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Advanced Research Methods | ||
Specjalność | przedmiot wspólny | ||
Jednostka prowadząca | Instytut Inżynierii Materiałowej | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Paweł Kochmański <Pawel.Kochmanski@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | |||
ECTS (planowane) | 2,0 | ECTS (formy) | 2,0 |
Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Knowledge of general physics, materials science, physical metallurgy |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | General knowledge about methods and techniques of materials investigation (structure and properties), abilities of method selection and interpretation of results, sample preparation, limitations of the methods |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
T-L-1 | X-Ray Diffraction (XRD) | 2 |
T-L-2 | Scanning Electron Microscopy (SEM) | 2 |
T-L-3 | X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES) | 2 |
T-L-4 | Electron Backscattered Diffraction (EBSD) | 2 |
T-L-5 | Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM) | 2 |
T-L-6 | Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES) | 2 |
T-L-7 | Scanning Probe Microscopy (SPM) | 2 |
T-L-8 | Nanoindentation | 1 |
15 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | X-Ray Diffraction (XRD) | 2 |
T-W-2 | Scanning Electron Microscopy (SEM) | 2 |
T-W-3 | X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES) | 2 |
T-W-4 | Electron Backscattered Diffraction (EBSD) | 2 |
T-W-5 | Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM) | 2 |
T-W-6 | Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES) | 2 |
T-W-7 | Scanning Probe Microscopy (SPM) | 2 |
T-W-8 | Nanoindentation | 1 |
15 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
laboratoria | ||
A-L-1 | Aktywne uczestnictwo w zajęciach laboratoryjnych | 15 |
A-L-2 | przygotowanie do zajęć i opracowanie sprawozdań | 24 |
39 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Uczestnictwo w wykładach | 15 |
A-W-2 | przygotowanie do zajęć | 6 |
21 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Lecture |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena podsumowująca: Written exam |
S-2 | Ocena podsumowująca: Oral exam |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|
IM_2A_C02_W01 Student understands physical basis of research methods. | ME_2A_W03 | — | C-1 | T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-L-1, T-L-2, T-L-3 | M-1 | S-1, S-2 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|
IM_2A_C02_U01 Student can select proper research method. | ME_2A_U12, ME_2A_U01 | — | C-1 | T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-L-1, T-L-2, T-L-3 | M-1 | S-1, S-2 |
Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne
Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|
IM_2A_C02_K01 Student can select proper method of research to particular solid material and knows how to interprete results. | ME_2A_K01 | — | C-1 | T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-L-1, T-L-2, T-L-3 | M-1 | S-1, S-2 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IM_2A_C02_W01 Student understands physical basis of research methods. | 2,0 | Student's knowledge is poor. |
3,0 | Student has basic knowledge about research metods. | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 | Student has excellence knowledge about research metods. |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IM_2A_C02_U01 Student can select proper research method. | 2,0 | Student cannot select research method. |
3,0 | Student can select research method. | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 | Student can select research method. Student can explain selection and can perfectly interprete obtained results. |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
IM_2A_C02_K01 Student can select proper method of research to particular solid material and knows how to interprete results. | 2,0 | Student cannot solve problems related to research methods. |
3,0 | Student cansolve problems related to research methods. | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Literatura podstawowa
- Amelinckx S. et all, Handbook of microscopy, VCH, Weinheim, New York, Basel, Cambridge, Tokyo, 1997
- Fischer-Cripps A.C., Nanoindentation, Springer, Berlin, 2004
- Lee E. Fitzpatrick, Encyclopedia of Materials Characterization. Surfaces, Interfaces, Thin Films, USA, 1992
- R. Jenkins and R.L. Snyder, Introduction to X-ray Powder Diffractometry, Wiley and Sons, Inc., New York, USA, 1996, ISBN 0 -471 -51339 -3
- Richard Payling, Thomas Nelis, Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy : A Practical Guide., 2003, DOI:10.1039/9781847550989
- Nikodem Tomczak, Kuan Eng Johnson Goh, SCANNING PROBE MICROSCOPY, World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd., 2011
- Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (5th edition), Sрringer, 2008, ISBN: 0387400931
- Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, Brent L. Adams, David P. Field, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Springer Science+Business Media, LLC, 2009, DOI 10.1007/978-0-387-88136-2
- ISO 14577-2 - Instrumented indentation test for hardness and materials parameters. Part 2: Verification and calibration of testing machines. Section 4: Direct verification and calibration.