ZUT - Krajowe Ramy Kwalifikacji / Rok 2018/2019 / Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki / Materials Engineering (S2) / Sylabus przedmiotu

Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Materials Engineering (S2)

Sylabus przedmiotu Advanced Research Methods:

Informacje podstawowe

Kierunek studiów	Materials Engineering
Forma studiów	studia stacjonarne	Poziom	drugiego stopnia
Tytuł zawodowy absolwenta	magister inżynier
Obszary studiów	nauki techniczne
Profil	ogólnoakademicki
Moduł	—
Przedmiot	Advanced Research Methods
Specjalność	przedmiot wspólny
Jednostka prowadząca	Instytut Inżynierii Materiałowej
Nauczyciel odpowiedzialny	Paweł Kochmański <Pawel.Kochmanski@zut.edu.pl>
Inni nauczyciele
ECTS (planowane)	2,0	ECTS (formy)	2,0
Forma zaliczenia	zaliczenie	Język	polski
Blok obieralny	—	Grupa obieralna	—

Formy dydaktyczne

Forma dydaktyczna	KOD	Semestr	Godziny	ECTS	Waga	Zaliczenie
laboratoria	L	1	15	1,3	0,38	zaliczenie
wykłady	W	1	15	0,7	0,62	zaliczenie

Wymagania wstępne

KOD	Wymaganie wstępne
W-1	Knowledge of general physics, materials science, physical metallurgy

Cele przedmiotu

KOD	Cel modułu/przedmiotu
C-1	General knowledge about methods and techniques of materials investigation (structure and properties), abilities of method selection and interpretation of results, sample preparation, limitations of the methods

Treści programowe z podziałem na formy zajęć

KOD	Treść programowa	Godziny
laboratoria
T-L-1	X-Ray Diffraction (XRD)	2
T-L-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)	2
T-L-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)	2
T-L-4	Electron Backscattered Diffraction (EBSD)	2
T-L-5	Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM)	2
T-L-6	Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES)	2
T-L-7	Scanning Probe Microscopy (SPM)	2
T-L-8	Nanoindentation	1
		15
wykłady
T-W-1	X-Ray Diffraction (XRD)	2
T-W-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)	2
T-W-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)	2
T-W-4	Electron Backscattered Diffraction (EBSD)	2
T-W-5	Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM)	2
T-W-6	Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES)	2
T-W-7	Scanning Probe Microscopy (SPM)	2
T-W-8	Nanoindentation	1
		15

Obciążenie pracą studenta - formy aktywności

KOD	Forma aktywności	Godziny
laboratoria
A-L-1	Aktywne uczestnictwo w zajęciach laboratoryjnych	15
A-L-2	przygotowanie do zajęć i opracowanie sprawozdań	24
		39
wykłady
A-W-1	Uczestnictwo w wykładach	15
A-W-2	przygotowanie do zajęć	6
		21

Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne

KOD	Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne
M-1	Lecture

Sposoby oceny

KOD	Sposób oceny
S-1	Ocena podsumowująca: Written exam
S-2	Ocena podsumowująca: Oral exam

Zamierzone efekty kształcenia - wiedza

Zamierzone efekty kształcenia	Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów	Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia	Cel przedmiotu	Treści programowe	Metody nauczania	Sposób oceny
IM_2A_C02_W01 Student understands physical basis of research methods.	ME_2A_W03	—	C-1	T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-L-1, T-L-2, T-L-3	M-1	S-1, S-2

Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności

Zamierzone efekty kształcenia	Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów	Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia	Cel przedmiotu	Treści programowe	Metody nauczania	Sposób oceny
IM_2A_C02_U01 Student can select proper research method.	ME_2A_U12, ME_2A_U01	—	C-1	T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-L-1, T-L-2, T-L-3	M-1	S-1, S-2

Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne

Zamierzone efekty kształcenia	Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów	Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia	Cel przedmiotu	Treści programowe	Metody nauczania	Sposób oceny
IM_2A_C02_K01 Student can select proper method of research to particular solid material and knows how to interprete results.	ME_2A_K01	—	C-1	T-W-1, T-W-2, T-W-3, T-L-1, T-L-2, T-L-3	M-1	S-1, S-2

Kryterium oceny - wiedza

Efekt kształcenia	Ocena	Kryterium oceny
IM_2A_C02_W01 Student understands physical basis of research methods.	2,0	Student's knowledge is poor.
	3,0	Student has basic knowledge about research metods.
	3,5
	4,0
	4,5
	5,0	Student has excellence knowledge about research metods.

Kryterium oceny - umiejętności

Efekt kształcenia	Ocena	Kryterium oceny
IM_2A_C02_U01 Student can select proper research method.	2,0	Student cannot select research method.
	3,0	Student can select research method.
	3,5
	4,0
	4,5
	5,0	Student can select research method. Student can explain selection and can perfectly interprete obtained results.

Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne

Efekt kształcenia	Ocena	Kryterium oceny
IM_2A_C02_K01 Student can select proper method of research to particular solid material and knows how to interprete results.	2,0	Student cannot solve problems related to research methods.
	3,0	Student cansolve problems related to research methods.
	3,5
	4,0
	4,5
	5,0

Literatura podstawowa

Amelinckx S. et all, Handbook of microscopy, VCH, Weinheim, New York, Basel, Cambridge, Tokyo, 1997
Fischer-Cripps A.C., Nanoindentation, Springer, Berlin, 2004
Lee E. Fitzpatrick, Encyclopedia of Materials Characterization. Surfaces, Interfaces, Thin Films, USA, 1992
R. Jenkins and R.L. Snyder, Introduction to X-ray Powder Diffractometry, Wiley and Sons, Inc., New York, USA, 1996, ISBN 0 -471 -51339 -3
Richard Payling, Thomas Nelis, Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy : A Practical Guide., 2003, DOI:10.1039/9781847550989
Nikodem Tomczak, Kuan Eng Johnson Goh, SCANNING PROBE MICROSCOPY, World Scientific Publishing Co. Pte. Ltd., 2011
Ludwig Reimer, Helmut Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (5th edition), Sрringer, 2008, ISBN: 0387400931
Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, Brent L. Adams, David P. Field, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Springer Science+Business Media, LLC, 2009, DOI 10.1007/978-0-387-88136-2
ISO 14577-2 - Instrumented indentation test for hardness and materials parameters. Part 2: Verification and calibration of testing machines. Section 4: Direct verification and calibration.

Treści programowe - laboratoria

KOD	Treść programowa	Godziny
T-L-1	X-Ray Diffraction (XRD)	2
T-L-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)	2
T-L-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)	2
T-L-4	Electron Backscattered Diffraction (EBSD)	2
T-L-5	Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM)	2
T-L-6	Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES)	2
T-L-7	Scanning Probe Microscopy (SPM)	2
T-L-8	Nanoindentation	1
		15

Treści programowe - wykłady

KOD	Treść programowa	Godziny
T-W-1	X-Ray Diffraction (XRD)	2
T-W-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)	2
T-W-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)	2
T-W-4	Electron Backscattered Diffraction (EBSD)	2
T-W-5	Transmission Electron Microscopy (TEM, STEM)	2
T-W-6	Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES)	2
T-W-7	Scanning Probe Microscopy (SPM)	2
T-W-8	Nanoindentation	1
		15

Formy aktywności - laboratoria

KOD	Forma aktywności	Godziny
A-L-1	Aktywne uczestnictwo w zajęciach laboratoryjnych	15
A-L-2	przygotowanie do zajęć i opracowanie sprawozdań	24
		39

(*) 1 punkt ECTS, odpowiada około 30 godzinom aktywności studenta

Formy aktywności - wykłady

KOD	Forma aktywności	Godziny
A-W-1	Uczestnictwo w wykładach	15
A-W-2	przygotowanie do zajęć	6
		21

(*) 1 punkt ECTS, odpowiada około 30 godzinom aktywności studenta

Pole	KOD	Znaczenie kodu
Zamierzone efekty kształcenia	IM_2A_C02_W01	Student understands physical basis of research methods.
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów	ME_2A_W03	Has knowledge of modern and advanced methods of characterising necessary for selection of research methods and interpretation of results
Cel przedmiotu	C-1	General knowledge about methods and techniques of materials investigation (structure and properties), abilities of method selection and interpretation of results, sample preparation, limitations of the methods
Treści programowe	T-W-1	X-Ray Diffraction (XRD)
	T-W-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)
	T-W-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)
	T-L-1	X-Ray Diffraction (XRD)
	T-L-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)
	T-L-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)
Metody nauczania	M-1	Lecture
Sposób oceny	S-1	Ocena podsumowująca: Written exam
Sposób oceny	S-2	Ocena podsumowująca: Oral exam
Kryteria oceny	Ocena	Kryterium oceny
	2,0	Student's knowledge is poor.
	3,0	Student has basic knowledge about research metods.
	3,5
	4,0
	4,5
	5,0	Student has excellence knowledge about research metods.

Pole	KOD	Znaczenie kodu
Zamierzone efekty kształcenia	IM_2A_C02_U01	Student can select proper research method.
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów	ME_2A_U12	Can operate selected technological and measurement devices
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów	ME_2A_U01	Can acquire information from literature, databases and other sources; also in a foreign language; can integrate obtained information, interpret them, draw conclusions and formulate and justify opinions
Cel przedmiotu	C-1	General knowledge about methods and techniques of materials investigation (structure and properties), abilities of method selection and interpretation of results, sample preparation, limitations of the methods
Treści programowe	T-W-1	X-Ray Diffraction (XRD)
	T-W-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)
	T-W-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)
	T-L-1	X-Ray Diffraction (XRD)
	T-L-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)
	T-L-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)
Metody nauczania	M-1	Lecture
Sposób oceny	S-1	Ocena podsumowująca: Written exam
Sposób oceny	S-2	Ocena podsumowująca: Oral exam
Kryteria oceny	Ocena	Kryterium oceny
	2,0	Student cannot select research method.
	3,0	Student can select research method.
	3,5
	4,0
	4,5
	5,0	Student can select research method. Student can explain selection and can perfectly interprete obtained results.

Pole	KOD	Znaczenie kodu
Zamierzone efekty kształcenia	IM_2A_C02_K01	Student can select proper method of research to particular solid material and knows how to interprete results.
Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów	ME_2A_K01	Can think and act in creative and entrepreneurial manner
Cel przedmiotu	C-1	General knowledge about methods and techniques of materials investigation (structure and properties), abilities of method selection and interpretation of results, sample preparation, limitations of the methods
Treści programowe	T-W-1	X-Ray Diffraction (XRD)
	T-W-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)
	T-W-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)
	T-L-1	X-Ray Diffraction (XRD)
	T-L-2	Scanning Electron Microscopy (SEM)
	T-L-3	X-ray microanalysis (EDS, WDS, SXES)
Metody nauczania	M-1	Lecture
Sposób oceny	S-1	Ocena podsumowująca: Written exam
Sposób oceny	S-2	Ocena podsumowująca: Oral exam
Kryteria oceny	Ocena	Kryterium oceny
	2,0	Student cannot solve problems related to research methods.
	3,0	Student cansolve problems related to research methods.
	3,5
	4,0
	4,5
	5,0