Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Mechanika i budowa maszyn (S2)
specjalność: urządzenia mechatroniczne
Sylabus przedmiotu Trójkoordynatowa technika pomiaru i metrologia SGP:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Mechanika i budowa maszyn | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
| Obszary studiów | nauki techniczne | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Trójkoordynatowa technika pomiaru i metrologia SGP | ||
| Specjalność | urządzenia mechatroniczne | ||
| Jednostka prowadząca | Instytut Technologii Mechanicznej | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Janusz Cieloszyk <Janusz.Cieloszyk@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | Janusz Cieloszyk <Janusz.Cieloszyk@zut.edu.pl> | ||
| ECTS (planowane) | 5,0 | ECTS (formy) | 5,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | 3 | Grupa obieralna | 4 |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Znajomość podstawowych zagadnień z metrologii technicznej, analizy wymiarowej |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Zapoznanie studentów z podstawowymi zasadamimi pomiarow |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | Pomiary 2D powierzchni po wybranych procesach obróbki ubytkowej i nieubytkowej. Opracowanie oprogramowania pomiaru w pełnym trybie CNC. Pomiary konturów. Pomiary na maszynie współrzędnościowej typowych części. Opracowanie oprogramowania pomiaru w pełnym trybie CNC wybranych części. | 30 |
| 30 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Contour dla Windows. Metody pomiaru falistości, chropowatości i nośności powierzchni, oprogramowanie do pomiarów ( np. Turbo Roughness for Windows), oprogramowanie do analizy topografii powierzchni, oprogramowanie CNC dla pomiarów w pełnym trybie CNC. Pomiary 2D i 3D. Zasady warunki i dokładności pomiarów profilomertycznych. Budowa współrzędnościowych maszyn pomiarowych.Głowice, czujniki pomiarów. Układy pomiarowe Roboty i centra pomiarowe.Oprogramowanie komputerowe w pomiarach współrzędnościowych. Programowanie zadań pomiarowych na maszynie pomiarowej, Dokładność profilometrów i maszyn pomiarowych. | 30 |
| 30 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | Uczestnictwo w zajęciach laboratoryjnych | 15 |
| A-L-2 | Przygotowanie do zajęc laboratoryjnych | 30 |
| A-L-3 | Praca własna | 15 |
| 60 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestnictwo w wykładach | 30 |
| A-W-2 | Poznanie wybranych pozycji literatury wykładi i literatury uzupełniającej | 30 |
| A-W-3 | Praca własna | 30 |
| 90 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | wykład informacyjny, wykład problemowy, pokazy, filmy, symulacje komputerowe. |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena podsumowująca: Warunkiem zaliczenia przedmiotu jest: obecność na wszystkich zajęciach laboratoryjnych, uzyskanie pozytywnej oceny zaliczeń zajęć laboratoryjnych i wykładów. Obecność na wykładach nieobowiązkowa. Na ocenę końcową składa się: ocena zaliczenia laboratoriów (50%), ocena zaliczenia treści wykładów (50%). Zaliczenie ćwiczeń odbywa się w czasie całego semestru, jak również na zakończenie tej formy zajęć. Zaliczenie wykładów odbywa się na końcu semestru na ostatnich zajęciach. Składa się z dwóch części: pisemnej i ustnej. Na zaliczeniu ustnym obowiązuje znajomość zagadnień z wykładów i podstawowa z ćwiczeń laboratoryjnych. Przykładowe zagadnienia: dla dowolnej części: korpusu, wałka, koła zębatego omówić: sposoby, metody wytwarzania, przebieg procesu, parametry procesu. |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MBM_2A_UM/07-4_W01 Definiuje istotę pomiarów współrzędnościowych w pomiarach wymiaru, kształtu. położenia i SGP dowolenego przedmiotu | MBM_2A_W02, MBM_2A_W04 | — | C-1 | T-W-1, T-L-1 | M-1 | S-1 |
| MBM_2A_UM/07-4_W02 Opisuje wybrane programy pomiarowe profilometru, maszyny pomiarowej | MBM_2A_W04 | — | C-1 | T-W-1, T-L-1 | M-1 | S-1 |
| MBM_2A_UM/07-4_W03 Rozróżnia sposoby i metody pomiaru SGP, wymiaru kształtu i położenia. | MBM_2A_W04 | — | C-1 | T-W-1, T-L-1 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MBM_2A_UM/07-4_U01 Zaproponuje sposób realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części. | MBM_2A_U17 | — | C-1 | T-W-1, T-L-1 | M-1 | S-1 |
| MBM_2A_UM/07-4_U02 Dobierze elementy pomiarowe; głowice, czujniki,oprogramowanie do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części, podając uzasadnienia i wyjaśnienia | MBM_2A_U17 | — | C-1 | T-W-1, T-L-1 | M-1 | S-1 |
Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MBM_2A_UM/07-4_K01 Oceni relacje między kosztami i cechami dowolnych części a technikami ich pomiaru. | MBM_2A_K04 | — | C-1 | T-W-1, T-L-1 | M-1 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| MBM_2A_UM/07-4_W01 Definiuje istotę pomiarów współrzędnościowych w pomiarach wymiaru, kształtu. położenia i SGP dowolenego przedmiotu | 2,0 | Student nie umie definiować żadnego istotnego pomiaru współrzędnościowego w pomiarach wymiaru, kształtu, położenia i SGP dowolenego przedmiotu |
| 3,0 | Student umie definiować wybrane podstawowe pomiary współrzędnościowe w pomiarach wymiaru, kształtu, położenia i SGP dowolenego przedmiotu | |
| 3,5 | Student umie efektywnie definiować pomiary współrzędnościowe w pomiarach wymiaru, kształtu, położenia i SGP dowolenego przedmiotu | |
| 4,0 | Student umie efektywnie definiować wszystkie pomiary współrzędnościowe w pomiarach wymiaru, kształtu, położenia i SGP dowolenego przedmiotu | |
| 4,5 | Student umie efektywnie definiować wszystkie pomiary współrzędnościowe w pomiarach wymiaru, kształtu, położenia i SGP dowolenego przedmiotu. Potrafi podać przykłady takich procesów. | |
| 5,0 | Student umie efektywnie definiować wszystkie pomiary współrzędnościowe w pomiarach wymiaru, kształtu, położenia i SGP dowolenego przedmiotu. Potrafi podać liczne przykłady takich procesów i je przeanalizować | |
| MBM_2A_UM/07-4_W02 Opisuje wybrane programy pomiarowe profilometru, maszyny pomiarowej | 2,0 | Student nie umie opisywać żadnych wybranego programu pomiarowego profilometru, maszyny pomiarowej |
| 3,0 | Student umie bardzo lapidarnie opisać wybrane programy pomiarowe profilometru, maszyny pomiarowej | |
| 3,5 | Student umie opisywać wybrane programy pomiarowe profilometru, maszyny pomiarowej z podaniem wyjasnień i przykładów | |
| 4,0 | Student umie opisywać programy pomiarowe profilometru, maszyny pomiarowej z podaniem wyjaśnień i przykładów | |
| 4,5 | Student umie szeroko opisać (tylko z drobnymi usterkami ) programy pomiarowe profilometru, maszyny pomiarowej z podaniem obszernych wyjaśnień i przykładów | |
| 5,0 | Student umie szeroko opisać programy pomiarowe profilometru, maszyny pomiarowej z podaniem obszernych wyjaśnień i przykładów | |
| MBM_2A_UM/07-4_W03 Rozróżnia sposoby i metody pomiaru SGP, wymiaru kształtu i położenia. | 2,0 | Student nie rozróżnia żadnych sposobów i metod pomiaru SGP, wymiaru, kształtu i położenia części. |
| 3,0 | Student rozróżnia tylko wybrane sposoby i metod pomiaru SGP, wymiaru, kształtu i położenia części. | |
| 3,5 | Student rozróżnia większość sposobów i metod pomiaru SGP, wymiaru, kształtu i położenia części. | |
| 4,0 | Student rozróżnia wszystkie sposoby i metody pomiaru SGP, wymiaru, kształtu i położenia części. | |
| 4,5 | Student rozróżnia wszystkie sposoby i metody pomiaru SGP, wymiaru, kształtu i położenia części, podając uzasadnienia. | |
| 5,0 | Student biegle rozróżnia wszystkie sposoby i metody pomiaru SGP, wymiaru, kształtu i położenia części, podając szerokie uzasadnienia. |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| MBM_2A_UM/07-4_U01 Zaproponuje sposób realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części. | 2,0 | Student nie umie zaproponować żadnego sposobu realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części. |
| 3,0 | Student umie tylko wybiórczo zaproponować sposób realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części. | |
| 3,5 | Student umie zaproponować sposób realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części. | |
| 4,0 | Student umie zaproponować różne sposóby realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części | |
| 4,5 | Student umie zaproponować z uzasadnieniem różne sposóby realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części | |
| 5,0 | Student umie zaproponować, z wyczerpujący uzasadnieniem, różne sposóby realizacji pomiarów współrzędnościowych wskazanego pomiaru; wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części | |
| MBM_2A_UM/07-4_U02 Dobierze elementy pomiarowe; głowice, czujniki,oprogramowanie do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części, podając uzasadnienia i wyjaśnienia | 2,0 | Student nie dobierze elementów pomiarowych; głowic, czujników,oprogramowania do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części. |
| 3,0 | Student dobierze tylko wybrane elementy pomiarowe; głowice, czujniki,oprogramowanie do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części, bez podawania uzasadnienia i wyjaśnienia. | |
| 3,5 | Student dobierze elementy pomiarowe; głowice, czujniki,oprogramowanie do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części, podając uzasadnienia i wyjaśnienia. | |
| 4,0 | Student dobierze elementy pomiarowe; głowice, czujniki,oprogramowanie do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części, podając fragmentaryczne uzasadnienia i wyjaśnienia. | |
| 4,5 | Student dobierze elementy pomiarowe; głowice, czujniki,oprogramowanie do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części, podając uzasadnienia i wyjaśnienia. | |
| 5,0 | Student dobierze elementy pomiarowe; głowice, czujniki,oprogramowanie do realizacji wskazanych pomiarów wymiaru, zarysu, położenia i SGP dowolnej części, podając wyczerpujące uzasadnienia i wyjaśnienia. |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| MBM_2A_UM/07-4_K01 Oceni relacje między kosztami i cechami dowolnych części a technikami ich pomiaru. | 2,0 | |
| 3,0 | Student posiadł podstawowe kompetencje w zakresie trójkoordynatowej techniki pomiaru SGP. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | ||
| 4,5 | ||
| 5,0 |
Literatura podstawowa
- M. Wieczorowski, Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni, Wyd. Politechniki Poznańskiej, 2009, 1
- M. Wieczorowski, Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni, Wyd. Politechniki Poznańskiej, 2009, 1
- Nowicki B., Struktura geometryczna Chropowatść i falistość, WNT, Warszawa, 1991
- Nowicki B., Struktura geometryczna Chropowatść i falistość, WNT, Warszawa, 1991
- Ratajczyk E., Współrzędnościowa Techniak pomiarowa, Oficyna wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2005
- Ratajczyk E., Współrzędnościowa Techniak pomiarowa, Oficyna wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2005
- Wieczorowski M., Cellary A., Hajda J.:, Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli chropowatości i nie tylko”, Zakład Poligraficzno Wydawniczy M-druk, Poznań, 2003
Literatura dodatkowa
- Oczoś K., liubimow V., Struktura geometryczna powierzchni, Oficyna wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2003
- Oczoś K., liubimow V., Struktura geometryczna powierzchni, Oficyna wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2003
- Thomas T. R.:, „Rough Surfaces”, Internal College Press, London, 1999, Second Edition