Wydział Inżynierii Mechanicznej i Mechatroniki - Zarządzanie i inżynieria produkcji (N1)
Sylabus przedmiotu Metrologia i systemy pomiarowe:
Informacje podstawowe
| Kierunek studiów | Zarządzanie i inżynieria produkcji | ||
|---|---|---|---|
| Forma studiów | studia niestacjonarne | Poziom | pierwszego stopnia |
| Tytuł zawodowy absolwenta | inżynier | ||
| Obszary studiów | nauki techniczne, studia inżynierskie | ||
| Profil | ogólnoakademicki | ||
| Moduł | — | ||
| Przedmiot | Metrologia i systemy pomiarowe | ||
| Specjalność | przedmiot wspólny | ||
| Jednostka prowadząca | Instytut Technologii Mechanicznej | ||
| Nauczyciel odpowiedzialny | Paweł Majda <Pawel.Majda@zut.edu.pl> | ||
| Inni nauczyciele | Marcin Chodźko <Marcin.Chodzko@zut.edu.pl> | ||
| ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
| Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
| Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
| KOD | Wymaganie wstępne |
|---|---|
| W-1 | Znajomość fundamentalna zagadnień metrologicznych. |
| W-2 | Wiedza z zakresu algebry i analizy matematycznej. Statystyka |
| W-3 | Fizyka (w zakresie szkoły średniej) |
Cele przedmiotu
| KOD | Cel modułu/przedmiotu |
|---|---|
| C-1 | Zapoznanie studenta z istotą metrologii i systemów pomiarowych. Umiejętności przygotowania, doboru odpowiedniej aparatury pomiarowej (urządzeń) i metod pomiarowych do przeprowadzania prostych pomiarów. |
| C-2 | Umiejętności klasyfikacji błędów, źródła błędów, określenie niepewności pomiaru. Umiejętność interpretacji otrzymanych wyników oraz i wizualizacja. |
| C-3 | Wiedza o budowie i zasadzie działania urządzeń pomiarowych wchodzących w skład systemów pomiarowych. |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
| KOD | Treść programowa | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| T-L-1 | Podstawy budowy wirtualnych systemów pomiarowych | 2 |
| T-L-2 | Pomiar parametrów ruchu drgającego | 2 |
| T-L-3 | Pomiary wymiarów wewnętrznych | 2 |
| T-L-4 | Pomiary temperatury i termowizja | 2 |
| T-L-5 | Wyznaczanie niepewności pomiaru | 2 |
| 10 | ||
| wykłady | ||
| T-W-1 | Podstawowe pojęcia metrologii i systemów pomiarowych, Definicja pomiaru, jednostki i układy miar, niedokładność pomiaru. | 1 |
| T-W-2 | Wzorce jednostek elektrycznych. Pomiary wielkości nieelektrycznych metodami nieelektrycznymi i elektrycznymi | 1 |
| T-W-3 | Pomiar parametrów ruchu układu drgającego. | 1 |
| T-W-4 | Pomiar temperatury. Metody tensometryczne. | 2 |
| T-W-5 | Pomiar mas, sił i momentów sił. | 1 |
| T-W-6 | Pomiary ciśnień. | 1 |
| T-W-7 | Pomiary odległości. Pomiar wilgotności. | 2 |
| T-W-8 | Pomiar mocy cieplnej. Pomiar przepływów. | 2 |
| T-W-9 | Pomiary termowizyjne. | 1 |
| 12 | ||
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
| KOD | Forma aktywności | Godziny |
|---|---|---|
| laboratoria | ||
| A-L-1 | Uczestnictwo w zajęciach. | 10 |
| A-L-2 | Przygotowanie zakresu wiedzy wymaganej w ramach bieżącego ćwiczenia laboratoryjnego. | 15 |
| A-L-3 | Analiza realizacji ćwiczenia laboratoryjnego i sprawozdawczość. | 5 |
| 30 | ||
| wykłady | ||
| A-W-1 | Uczestnictwo w wykładach | 12 |
| A-W-2 | Studium literaturowe. | 8 |
| A-W-3 | Praca własna (powtórzenie poprzednich wykładów) | 20 |
| A-W-4 | Przygotowanie się do zaliczeń wykładów | 18 |
| A-W-5 | Udział w egzaminie | 2 |
| 60 | ||
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
| KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
|---|---|
| M-1 | Wykład multimedialny z elementami konwersatoryjnymi. |
| M-2 | Metoda problemowa; w odniesieniu do wykładu, tej jej części, w której dyskutowane jest aktywizujące audytorium rozwiązywanie problemu obliczeniowego. |
| M-3 | W odniesieniu do zajęć laboratoryjnych pokaz i demonstracja. Realizacja przez studentów ćwiczeń laboratoryjnych. |
Sposoby oceny
| KOD | Sposób oceny |
|---|---|
| S-1 | Ocena podsumowująca: W odniesieniu do wykładu; ocena podsumowująca: końcowy egzamin pisemny lub ustny. |
| S-2 | Ocena formująca: W odniesieniu do ćwiczeń laboratoryjnych; ocena formująca: sprawdziany pisemne i ustne wejściowe do ćwiczeń, ocena jakości po ćwiczeniowych. |
Zamierzone efekty kształcenia - wiedza
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ZIIP_1A_IJZ/05_W01 W odniesiemiu do wybranego punktu programu kierunku studiów: zna podstawy metrologii i techniki systemów pomiarowych | ZIIP_1A_W06, ZIIP_1A_W13, ZIIP_1A_W15 | — | — | C-1, C-3 | T-W-6, T-W-2, T-W-1, T-W-5, T-W-8, T-W-4, T-W-7, T-W-9, T-W-3 | M-2, M-1 | S-1, S-2 |
Zamierzone efekty kształcenia - umiejętności
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ZIIP_1A_IJZ/05_U01 Student posiada umiejętność w dokonywaniu prostych pomiarów nielektrycznych i elektrycznych. Potrafi analizować działania przetworników pomiarowych przy uwzględnieniu przyrządów pomiarowych | ZIIP_1A_U03, ZIIP_1A_U14, ZIIP_1A_U21 | — | — | C-2 | T-L-2, T-L-3, T-L-5, T-L-1, T-L-4 | M-2, M-3 | S-1, S-2 |
Zamierzone efekty kształcenia - inne kompetencje społeczne i personalne
| Zamierzone efekty kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów kształcenia prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ZIIP_1A_IJZ/05_K01 Świadomie rozumie potrzeby dokształcania się, gdyż kolejne generacje rozwiązań sprzętowych będa wnosiły nowy zakres wiedzy. | ZIIP_1A_K01, ZIIP_1A_K07 | — | — | C-1, C-3 | T-L-2, T-L-3, T-L-5, T-L-1, T-L-4, T-W-6, T-W-2, T-W-1, T-W-5, T-W-8, T-W-4, T-W-7, T-W-9, T-W-3 | M-2, M-3, M-1 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ZIIP_1A_IJZ/05_W01 W odniesiemiu do wybranego punktu programu kierunku studiów: zna podstawy metrologii i techniki systemów pomiarowych | 2,0 | Student nie opanował podstawowej wiedzy z zakresu przedmiotu. |
| 3,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Nie potrafi kojarzyć i analizować nabytej wiedzy. | |
| 3,5 | Student opanował wiedzę w stopniu pośrednim między oceną 3,0 a 4,0. | |
| 4,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Zna ograniczenia i obszary jej stosowania. | |
| 4,5 | Student opanował wiedzę w stopniu pośrednim między oceną 4,0 a 5,0. | |
| 5,0 | Student opanował podstawową wiedzę z zakresu przedmiotu. Rozumie ograniczenia i zna obszary jej stosowania. |
Kryterium oceny - umiejętności
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ZIIP_1A_IJZ/05_U01 Student posiada umiejętność w dokonywaniu prostych pomiarów nielektrycznych i elektrycznych. Potrafi analizować działania przetworników pomiarowych przy uwzględnieniu przyrządów pomiarowych | 2,0 | Nie potrafi poprawnie rozwiązywać zadań. Przy wykonywaniu ćwiczeń laboratoryjnych nie potrafi wyjaśnić sposobu działania i ma problem z formułowaniem wniosków. |
| 3,0 | Student rozwiązuje podstawowe zadania. Popełnia błędy. Ćwiczenia praktyczne realizuje poprawnie ale w sposób bierny. | |
| 3,5 | Student posiadł umiejętność w stopniu pośrednim między 3,0 a 4,0. | |
| 4,0 | Student umiejętnie kojarzy i analizuje nabytą wiedzę. Ćwiczenia praktyczne realizuje poprawnie, jest aktywny i potrafi interpretować uzyskane wyniki. | |
| 4,5 | Student posiadł umiejętność w stopniu pośrednim między 4,0 a 5,0. | |
| 5,0 | Student bardzo dobrze kojarzy i analizuje nabytą wiedzę. Zadania rozwiązuje metodami optymalnymi posiłkując się właściwymi technikami obliczeniowymi. Ćwiczenia praktyczne realizuje wzorowo, jest aktywny i potrafi ocenić metodę i uzyskane wyniki. |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
| Efekt kształcenia | Ocena | Kryterium oceny |
|---|---|---|
| ZIIP_1A_IJZ/05_K01 Świadomie rozumie potrzeby dokształcania się, gdyż kolejne generacje rozwiązań sprzętowych będa wnosiły nowy zakres wiedzy. | 2,0 | Ujawnia brak zdyscyplinowania w trakcie słuchania i notowania wykładów. Przy wykonywaniu ćwiczeń praktycznych w zespołach nie angażuje się na rozwiązywanie zadań. |
| 3,0 | Ujawnia mierne zaangażowanie się w pracy zespołowej przy rozwiązywaniu zadań problemowych, obliczeniowych czy symulacjach. | |
| 3,5 | ||
| 4,0 | Ujawnia swą aktywną rolę w zespołowym przygotowywaniu prezentacji wyników, obliczeń czy przeprowadzonej symulacji. | |
| 4,5 | ||
| 5,0 | Ujawnia własne dążenie do doskonalenia nabywanych umiejętności współpracy w zespole przy rozwiązywaniu postawionych problemów. Student czynnie uczestniczy w pracach zespołowych. |
Literatura podstawowa
- Jakubiec W., Zator S., Majda P., Metrologia, Polskie Wydawnictwo Ekonomiczne, Warszawa, 2014, ISBN 978-83-208-2175-8
- Jakubic W., Malinowski J., Metrologia wielkości geometrycznych, WNT, Warszawa, 2004
- Augustyn Chwaleba, Metrologia elektryczna, Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa, 2000
- Jan Tomasik i inni, Współczesna metrologia - wybrane zagadnienia, Wydawnictwo Techniczne, Warszawa, 2009
- Tumański Sławomir, Technika pomiarowa, WNT, Warszawa, 2007
- Stanisław Adamczak, Włodzimierz Makieła, Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników Ćwiczenia praktyczne, WNT, Warszawa, 2010, ISBN 978-83-204-3672-3
- Janusz Piotrowski, Podstawy miernictwa, WNT, 2002, ISBN: 83-204-2724-X
Literatura dodatkowa
- Waldemar Nawrocki, Rozproszone systemy pomiarowe, Wydawnictwo WKiŁ, 2006, ISBN: 83-206-1600-X
- Jerzy Rydzewski, Pomiary oscyloskopowe, WNT, 2007, ISBN: 978-83-204-3368-5