Wydział Biotechnologii i Hodowli Zwierząt - Biotechnologia (S2)
Sylabus przedmiotu Mikroskopia i mikroanaliza:
Informacje podstawowe
Kierunek studiów | Biotechnologia | ||
---|---|---|---|
Forma studiów | studia stacjonarne | Poziom | drugiego stopnia |
Tytuł zawodowy absolwenta | magister inżynier | ||
Obszary studiów | charakterystyki PRK, kompetencje inżynierskie PRK | ||
Profil | ogólnoakademicki | ||
Moduł | — | ||
Przedmiot | Mikroskopia i mikroanaliza | ||
Specjalność | Nanobioinżynieria | ||
Jednostka prowadząca | Katedra Fizykochemii Nanomateriałów | ||
Nauczyciel odpowiedzialny | Ewa Mijowska <Ewa.Borowiak-Palen@zut.edu.pl> | ||
Inni nauczyciele | Karolina Wenelska <Karolina.Wilgosz@zut.edu.pl> | ||
ECTS (planowane) | 3,0 | ECTS (formy) | 3,0 |
Forma zaliczenia | zaliczenie | Język | polski |
Blok obieralny | — | Grupa obieralna | — |
Formy dydaktyczne
Wymagania wstępne
KOD | Wymaganie wstępne |
---|---|
W-1 | Podstawy nanotechnologii i nanonauki |
W-2 | Analiza Instrumentalna |
Cele przedmiotu
KOD | Cel modułu/przedmiotu |
---|---|
C-1 | Celem wykładu jest zapoznanie studenta z metodami mikroskopii elektronowej i mikroanalizą oraz ich zastosowaniem w nanotechnologii |
Treści programowe z podziałem na formy zajęć
KOD | Treść programowa | Godziny |
---|---|---|
ćwiczenia audytoryjne | ||
T-A-1 | Podstawy analizy obrazów nanomateriałów (TEM, SEM, AFM). | 20 |
20 | ||
wykłady | ||
T-W-1 | Mikroanaliza: - spektroskopia dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego, - spektroskopia strat energii elektronów. | 6 |
T-W-2 | Mikroskopia elektronowa | 6 |
T-W-3 | Zapoznanie się z podstawowymi technikami mikroskopii bliskich oddziaływań: - skaningowa mikroskopia tunelowa, - mikroskopia sił atomowych: mod statyczny oraz dynamiczny, - mikroskopia optyczna bliskiego pola, | 6 |
T-W-4 | Preparatyka próbek do analizy mikroskopowej | 2 |
20 |
Obciążenie pracą studenta - formy aktywności
KOD | Forma aktywności | Godziny |
---|---|---|
ćwiczenia audytoryjne | ||
A-A-1 | Uczestnictwo w zajęciach audytoryjnych | 20 |
A-A-2 | przygotowanie się do zaliczenia | 15 |
A-A-3 | Udział w demonstracji pracy aparatów | 11 |
46 | ||
wykłady | ||
A-W-1 | Uczestnictwo na wykładach | 20 |
A-W-2 | przygotowanie się do zaliczenia | 15 |
A-W-3 | Zapoznanie się z literaturą przedmiotu | 5 |
A-W-4 | Konsultacje z prowadzącym | 6 |
46 |
Metody nauczania / narzędzia dydaktyczne
KOD | Metoda nauczania / narzędzie dydaktyczne |
---|---|
M-1 | Prezentacja multimedialna |
M-2 | Zajęcia praktyczne z wykorzystaniem sprzętu slużącego do identyfikacji nanomateriałów |
Sposoby oceny
KOD | Sposób oceny |
---|---|
S-1 | Ocena formująca: Ocena aktywnosci na zajeciach audytoryjnych i laboratoryjnych |
S-2 | Ocena podsumowująca: Egzamin z wykładów |
S-3 | Ocena podsumowująca: Zaliczenie z ćwiczeń audytoryjnych |
Zamierzone efekty uczenia się - wiedza
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
BTna_2A_NBI-S-D1_W01 Dobieranie odpowiedniego sprzętu do charakteryzacji nanomateriałów oraz definiowanie podstawowych praw fizycznych na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | BTna_2A_W08 | — | — | C-1 | T-W-1, T-W-2, T-W-3 | M-1, M-2 | S-3 |
Zamierzone efekty uczenia się - umiejętności
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
BTna_2A_NBI-S-D1_U01 Student potrafi dobierać i zastosować zaawansowane techniki i narzędzia badawcze do charakterystyki nanomateriałów | BTna_2A_U08 | — | — | C-1 | T-A-1 | M-2 | S-1, S-3 |
Zamierzone efekty uczenia się - inne kompetencje społeczne i personalne
Zamierzone efekty uczenia się | Odniesienie do efektów kształcenia dla kierunku studiów | Odniesienie do efektów zdefiniowanych dla obszaru kształcenia | Odniesienie do efektów uczenia się prowadzących do uzyskania tytułu zawodowego inżyniera | Cel przedmiotu | Treści programowe | Metody nauczania | Sposób oceny |
---|---|---|---|---|---|---|---|
BTna_2A_NBI-S-D1_K01 Aktywna postawa przy realizacji określonego zadania w sytuacjach priorytetowych i problemowych | BTna_2A_K01 | — | — | C-1 | T-A-1 | M-2 | S-1 |
Kryterium oceny - wiedza
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
BTna_2A_NBI-S-D1_W01 Dobieranie odpowiedniego sprzętu do charakteryzacji nanomateriałów oraz definiowanie podstawowych praw fizycznych na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | 2,0 | |
3,0 | w co najmniej 51% potrafi dobierać odpowiedni sprzęt do charaktryzacji nanomateriałów oraz definiować podstawowe prawa fizyczne na których opiera się działanie sprzętu wykorzystywanego do identyfikacji nanomateriałów | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - umiejętności
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
BTna_2A_NBI-S-D1_U01 Student potrafi dobierać i zastosować zaawansowane techniki i narzędzia badawcze do charakterystyki nanomateriałów | 2,0 | |
3,0 | w co najmniej 51% potrafi dobierać i posługiwać się sprzętem używanym do charakteryzacji otrzymanego nanomateriału a także interpretować otrzymane wyniki | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Kryterium oceny - inne kompetencje społeczne i personalne
Efekt uczenia się | Ocena | Kryterium oceny |
---|---|---|
BTna_2A_NBI-S-D1_K01 Aktywna postawa przy realizacji określonego zadania w sytuacjach priorytetowych i problemowych | 2,0 | |
3,0 | w co najmniej 51% potrafi wykazać aktywną postawe przy realizacji określonego zadania w sytuacjach priorytetowych i problemowych | |
3,5 | ||
4,0 | ||
4,5 | ||
5,0 |
Literatura podstawowa
- Yao, Nan; Wang, Zhong L, Handbook of Microscopy for Nanotechnology, Springer, 2005